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Nachstarverhalten verschiedener Silikonlinsen -
Vergleich der CeeOnEdge ® -, der AMO ® Array ® -
und der Clariflex ® -IOL

Becker KA, Auffarth GU, Martin M, Biedenkopf A,
Völcker HE
Heidelberg

Hintergrund: Drei verschiedene Silikonlinsen mit scharfer
(CeeOnEdge ® -und Clariflex ® -IOL) und mit abgerundeter Kante
(AMO ® Array) wurden bezüglich ihres Nachstarverhaltens mitein-
ander verglichen. Patienten und Methoden: 45 Patienten, denen
eine der genannten Sililkon-Linsen implantiert wurden, wurden
ein Jahr postoperativ (Ausnahme: Clariflex ® IOL - Nachbeobach-
tungsdauer 6 Monate) klinisch untersucht und ein Retroillumina-
tionsphoto angefertigt. Dieses wurden dann mit Hilfe des Bild-
analyseprogrammes EPCO 2000 hinsichtlich seiner Nachstarent-
wicklung ausgewertet. Hierbei wurde der Nachstar im Bereich der
gesamten IOL, der zentralen 3 mm Zone und innerhalb der Kap-
sulorhexis ausgewertet. Ergebnisse: Bei der Nachbeobachtungs-
dauer von 1 Jahr zeigte die CeeOnEdge ® Linse geringere Nachst-
arwerte die AMO ® Array ® IOL. Bei Patienten mit der scharfkanti-
gen IOL wurde in keinem Fall eine YAG-Kapsulotomie durchge-
führt, was bei den Patienten mit IOL mit abgerundeter Optikkante
nicht der Fall war. Schlussfolgerung: Alle drei dargestellten Sili-
konlinsen zeigen insgesamt eine geringe Nachstarentwicklung.



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